Конфокальный микроскоп Nikon C2+, C2si+

Описание

Конфокальный микроскоп Nikon C2+ является на данный момент незаменимым инструментом для лабораторной микроскопии. Система C2+ имеет невысокую стоимость, она стабильна и проста в использовании и позволяет достичь скорости получения изображения 100 кадров в секунду, а также имеется возможность спектрального анализа.

Конфокальный микроскоп Nikon C2+ на данный момент является уже незаменимым инструментом для лабораторной микроскопии. Конфокальная система C2+ стабильна и проста в использовании и позволяет достичь скорости получения изображения 100 кадров в секунду.

Предшественником конфокальной системы Nikon C2 является Nikon C1.

Высококачественные диаскопические изображения в ДИК (дифференциально-интерференционный контраст)

C2+ может выполнять одновременную регистрацию флуоресценции тремя каналами или одновременную регистрацию флуоресценции тремя каналамии в проходящем свете в ДИК. Для проведения морфологического анализа возможно наложение высококачественных изображений в ДИК и флуоресцентных изображений.

Высокоэффективные сканирующие головки и детекторы

Благодаря удобной, небольшой по размеру сканирующей головке, C2+ может использоваться с различными типами микроскопов компании Nikon. В C2+ используются зеркала высокой точности и круглые диафрагмы, предусмотрено разделение детекторов для изоляции источников тепла и шума, что обеспечивает формирование высококонтрастного и высококачественного конфокального изображения с низким уровнем шума.

Благодаря недавно разработанной системе привода сканнера и технологии коррекции изображений компании Nikon, можно получать изображения со скоростью 8 кадров в секунду (512х512 пикселей) и 100 кадров в секунду (512х32 пикселя).

Высококачественная оптика

Беспрецедентная оптика и высокоэффективное конструктивное решение от компании Nikon позволяют получать самые яркие и четкие изображения при самых больших рабочих расстояниях.

CFI Апохромат серии λS

Объективы с высокой числовой апертурой (NA) идеально подходят для формирования конфокального изображения с коррекцией хроматической аберрации по всему диапазону длин волн с УФ области спектра. В частности, объектив LWD 40xWI осуществляет коррекцию до инфракрасной области излучения. Светопропускание повышается благодаря использованию эксклюзивной технологии покрытия Nikon – Nano Crystal Coat.

CFI Апохромат серии TIRF

Это единственные объективы с числовой апертурой равной 1,49 (с использованием стандартных покровных стекол и иммерсионного масла), они обеспечивают самое высокое разрешение среди объективов Nikon. С помощью специального кольца можно корректировать качество изображений в зависимости от условий окружающей среды в диапазоне от 23°С до 37°С.

Высокая функциональность

Программное обеспечение NIS-Elements предназначено для обработки и анализа изображений в микроскопии. Оно также обеспечивает извлечение данных из полученных изображений. Кроме того, в NIS-Elements предусмотрено все для интуитивного управления микроскопами Nikon и другими внешними устройствами, например, EMCCD-камерами и сменными светофильтрами с целью расширения диапазона исследований.

Возможность работы в разных режимах

В пакете программного обеспечения предусмотрены различные методы получения изображений, например, конфокальный метод, метод широкого поля, метод флуоресценции полного внутреннего отражения (TIRF), метод фотоактивации, а также функции обработки, анализа и отображения полученных изображений. Пользователи могут легко научиться контролировать различные системы формирования изображения при помощи обычного интерфейса и набора инструментов.

  • Удобный дисплей для настройки лазеров, детекторов и т.д.
  • Интуитивно понятные настройки параметров временных измерений и параметров Z-серий.
  • Многочисленные функции для анализа и разделения полученных спектров, при этом запрограммированы спектральные профили обычных красителей и флуоресцентных белков.
  • Настройки различных параметров (например, настройки камеры и установка канала) могут быть сохранены для повторного использования.

Совместимость с микроскопами Nikon

Nikon С2+ можно использовать с прямым Ni и инвертированным Ti микроскопом, микроскопом для физиологии FN1 и микроскопом для макро-изображений AZ100, также есть возможность для комбинирования с различными высококачественными исследовательскими экспериментальными системами.

TIRF/Фотоактивация

На конфокальную систему C2+ дополнительно можно установить лазерный модуль для TIRF и модуль фотоактивации для формирования изображений одиночных молекул с исключительно высоким отношением сигнал/шум и для формирования изображений характерных изменений фотоактивированного и фотоконвертируемого флуоресцентного белка.

Макроконфокальная система AZ-C2+

Благодаря широкому углу обзора можно получить изображение образцов размером более чем 1 см с исключительно высоким отношением сигнал/шум. Nikon AZ-C2+ обеспечивает формирование изображений всех установленных образцов, например, эмбрионов, за одно сканирование (при разрешении до 4000×4000 пикселей). При помощи C2si+ возможно получение спектральных данных по 32 каналам.

Устройство предлагает комбинацию объективов низкого и высокого увеличения, функции оптического зуммирования и зуммирование конфокального сканирования, обеспечивающие непрерывное формирование изображений от макро- до

В дополнение к обычному трехканальному флуоресцентному детектору, конфокальный лазерный сканирующий микроскоп Nikon C2si+ оборудован специальным спектральным детектором для формирования спектральных изображений. Переключая детекторы, можно получить точные спектральные данные флуоресцентных сигналов. Nikon C2si+ фиксирует малые изменения длины волны в спектре, а также разделяет наложенные спектры. Более того, существует возможность за одно сканирование получить спектр в диапазоне более 320 нм, минимизируя при этом наносимый живым клеткам вред.
Оптическое волокно

Разрешение по длинам волн не зависит от диаметра диафрагмы

32-х канальный детектор

В спектральном детекторе предусмотрен экранирующий механизм для лазера. В сочетании с разрешением длины волны, которое не зависит от диаметра диафрагмы, этот механизм успешно перекрывает отраженный лазерный луч. Блокировочный механизм можно легко перемещать при помощи программного обеспечения, позволяя пользователям блокировать любую длину волн лазера и делая C2si+ совместимым с любым лазером.

Дифракционные решетки

Разрешение по длинам волн может изменяться с помощью трех разных решеток (2,5/6/10 нм). Каждое положение точно контролируется для достижения максимальной воспроизводимости длины волны.

Система DEES

Высокая эффективность дифракции достигается путем согласования направления поляризации падающего на решетку света с S-плоскостью поляризации. При помощи системы улучшения дифракционной эффективности (DEES) неполяризованный флуоресцентный свет, излучаемый образцом, разделяется при помощи делителя поляризованных лучей на два поляризованных световых луча P и S. Затем, луч P-поляризацией преобразуется с помощью устройства поворота плоскости поляризации в S-поляризованный луч, так как S луч обладает большей эффективностью дифракции чем Р, достигается значительное увеличение общей дифракции.

Технология высокоэффективного пропускания флуоресценции

Концы флуоресцентных световодов и поверхности детектора покрыты специальным противоотражающим покрытием, чтобы свести все потери сигнала к минимуму, чем достигается высокая степень оптического пропускания.

Точная и надежная спектральная информация

Три метода коррекции позволяют получить точный спектр: межканальная коррекция чувствительности, которая регулирует смещение и чувствительность каждого канала; коррекция спектральной чувствительности, которая регулирует спектральную эффективность дифракционной решетки и эффективность спектрального детектора; коррекция спектрального пропускания в оптических элементах сканирующих головок и микроскопах.

Легкое разделение перекрывающихся спектров

Флуоресцентные метки с перекрывающимися спектрами можно разделить без взаимных помех. Даже без эталонного спектра можно разделить флуоресцентные спектры, для этого необходимо выделить изучаемую область и нажать кнопку Simple Unmixing (Простое разделение). В C2si+ имеется встроенная база спектральных данных, предоставленная производителями флуоресцентных красителей, которые могут быть определены как эталонный спектр для флуоресцентного разделения. Пользователи могут также добавить в базу данных спектральную информацию для новых меток.

Разделение нескольких флуоресцентных сигналов

Благодаря возможности выбора разрешения и диапазона, за один раз можно просканировать такой флуоресцентный белок как CFP/GFP/YFP/Ds Red в широком диапазоне длин волны от синей до красной области спектра. Справочные данные позволяют разделять и отображать белок любого цвета.

Разделение красных флуорохромов

Красные флуорохромы, работа с которыми ранее являлась сложной задачей, сейчас легко разделить.

Спектры для изучаемых областей 1 и 2 в соответствии с изображениями справа. Пик спектра флуоресценции родамина находится приблизительно в области 579 нм, в то время как такой пик для RFP – приблизительно в области 600 нм. Флуоресцентное излучение RFP слабее, чем излучение родамина, но их спектры можно четко разделить.

Разделение автофлуоресценции образцов с множественной окраской

Разделение флуоресцентного излучения позволяет не только разделять перекрывающиеся флуоресцентные спектры, например CFP и YFP, но также удалять автофлуоресценцию клеток, что ранее было сложно выполнить.

Подтверждение экспрессии GFP

Во время конфокального наблюдения флуоресцентное излучение визуализируется как интенсивность флуоресцентного излучения в определенном диапазоне длин волны. Спектральный детектор позволяет подтвердить подробные спектральные характеристики флуоресцентного излучения.

Спектральный анализ FRET

Анализ резонансного переноса энергии флуоресценции (FRET) с использованием спектрального изображения позволяет проводить трехмерный анализ с высоким отношением сигнал/шум и высокой разрешающей способностью, а также как легко определить FRET путем определения спектральных измерений, полученных в результате FRET в режиме реального времени.

При наложении спектров донора и акцептора подобно CFP и YFP, разделение с использованием справочных данных позволяет обнаружить детальные изменения интенсивности и проанализировать соотношение флуоресцентных сигналов (YFP/CFP).

При наложении спектров донора и акцептора подобно CFP и YFP, разделение с использованием справочных данных позволяет обнаружить детальные изменения интенсивности и проанализировать соотношение флуоресцентных сигналов (YFP/CFP).

Получение спектрального изображения (XYT λ)

Спектральное изображение в диапазоне 460-620 нм, полученное при разрешении 5 нм с использованием спектрального детектора, позволяет наблюдать за изменениями длины волны флуоресцентного излучения.

Перед АТФ стимуляцией
8 секунд после АТФ стимуляции>

Спектральный анализ

Изображение в естественных цветах и спектральный анализ CFP и YFP. Левый пик указывает на CFP, а правый на YFP соответственно. После АТФ стимуляции наблюдается снижение пика CFP и увеличение пика YFP из-за FRET.

Разделение флуоресцентного излучения

Спектральный анализ FRET возможен путем разделения с использованием справочных данных CFP и YFP. Двухмерное изменение (FRET) внутриклеточной концентрации Ca2+ легко определить по спектральным данным (без обесцвечивания акцептора).

Изображение FRET после спектрального разделения. CFP обозначается синим, а YPF – зеленым.

Пятимерный анализ (XYZT)

Изменения за промежуток времени (T) и спектры можно анализировать в трехмерном пространстве (XYZ).
Перед АТФ стимуляцией
8 секунд после АТФ стимуляции

Технические характеристики

Совместимый лазер 405 нм/440 нм, 488 нм/Ar (457 нм, 477 нм, 488 нм, 514 нм), 543 нм/561 нм/594 нм, 633 нм/638 нм/640 нм
Лазерный блок C-LU3EX 3-лазерный модуль EX (AOTF или ручной модулятор), LU4A 4-лазерный модуль A (AOTF модуляция), LU-N4S, LU-N3, LU-NV
Стандартный детектор флуоресценции Длина волны: 400-750 нм, Детектор: 3 MPT, Фильтры: 2 блока
Диаскопический детектор (опция) Длина волны: 400-700 нм, Детектор: 1 MPT
Сканирующая головка (гальваническая) Со стандартным детектором: 2048 x 2048 пикселей Скорость сканирования: стандартный режим: 2 кадра/сек (512 x 512 пикселей, в 2 направлениях), 17 кадров/сек (512 x 32 пикселей, в 2 направлениях), зуммирование: 1-1000ґ; быстрый режим: 8 кадров/сек (512 x 512 пикселей, в 2 направлениях), 100 кадров/сек (512 x 32 пикселей, в 2 направлениях)*2, зуммирование: 8-1000ґ
Со спектральным детектором макс. 1024 x 1024 пикселей Скорость сканирования: 0,5 кадров/сек (512 x 512 пикселей, в одном направлении), макс. 6 кадров/сек (64 x 64 пикселей, в одном направлении
Сканирующий режим X-Y, XY вращение, зуммирование, изучаемая область, XYZ, серийная съёмка с временным интервалом, X-Z, стимуляция, многоточечный режим, сшивка изображений (большое изображение)
Спектральный детектор (с гальваническим сканером) (опция) Количество каналов: 32 канала, спектральный диапазон: 400-750 нм,
Разрешение: 2,5 нм, 5 нм, 10 нм, диапазон длин волны изменяется с шагом 0,25 нм,
Разделение спектров: быстрое разделение, точное разделение
Битовая глубина изображения 12 бит
Совместимые микроскопы Инвертированный микроскоп ECLIPSE Ti-E/Ti-U, прямой микроскоп ECLIPSE Ni-E (с фокусировкой револьвера/с фокусировкой предметного столика)/Ni-U, микроскоп с неподвижным предметным столиком ECLIPSE FN1, многофункциональный микроскоп с большим увеличением AZ100
Программное обеспечение NIS Elements C Отображение/обработка изображения/анализ 2D/3D/4D анализ, анализ серийной съёмки с временным интервалом, объёмная 3D визуализация/ ортогональное отображение, пространственный фильтр, сшивка изображений, многопозиционная серийная съёмка с временным интервалом, спектральное разделение, разделение в режиме реального времени, виртуальные фильтры, деконволюция, вывод графических файлов формате AVI
Применение: FRAP, FLIP, FRET, фотоактивация, колокализация, трехмерная серийная съемка с временным интервалом, многопозиционная съемка с временным интервалом
Рекомендуемые условия установки Температура 23° ± 5°C, относительная влажность воздуха 60% или меньше (без образования конденсата)